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電卡效應(yīng)測(cè)試儀 ECM (ElectroCalori 參考價(jià)：9999
電卡效應(yīng)測(cè)試儀 ECM(ElectroCaloric Measurement)本系統(tǒng)除了可以測(cè)試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用于測(cè)試材料在寬溫度范圍內(nèi)...
SWXWY-600型*材料高低溫應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
SWXWY-600型*材料高低溫三維顯微應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)系統(tǒng)——光學(xué)顯微鏡和DIC數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)的結(jié)合，可以滿足納米級(jí)精度測(cè)量需求。SWXWY-600型*材料三維...
RRAM阻變式存儲(chǔ)器測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
應(yīng)用領(lǐng)域主要有：Ferroelectric/ Multiferroic Tunnel-Junctions (FTJ/MFTJ) 鐵電/多鐵隧道結(jié)Electro-...
aixPES壓電材料綜合表征測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
aixPES壓電材料綜合表征系統(tǒng)本系統(tǒng)主要用于壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。大信號(hào)和小信號(hào)材料的特征可以在一定溫度范圍內(nèi)表征。樣品上的電流響應(yīng)測(cè)...
aixPES-DR鐵電自放電測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
本設(shè)備主要用來研究電介質(zhì)材料的自漏電性。由于測(cè)試條件非常接近實(shí)際情況，因此通過這種方式可容易地測(cè)試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。技術(shù)說明：
TF Analyzer 3000鐵電壓電分析儀 參考價(jià)：面議
TF Analyzer 3000鐵電壓電分析儀 TF ANALYZER 3000E是一款擴(kuò)展性的高速型模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特...
TF Analyzer 2000E鐵電壓電分析儀 參考價(jià)：面議
TF ANALYZER 2000E是一款擴(kuò)展性的模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位...
TF Analyzer 1000鐵電壓電分析儀 參考價(jià)：面議
鐵電壓電分析儀 TF Analyzer 1000TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電材料所有基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉...
FeRAM鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
內(nèi)存窗口信息是基于對(duì)器件*集成后進(jìn)行模擬電滯回線測(cè)量后得出的。應(yīng)用領(lǐng)域：鐵電存儲(chǔ)器的生產(chǎn)生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，以便不會(huì)影響到CMOS生產(chǎn)過程在MHz的操作速度下...
鐵電遲豫電流測(cè)試儀 aixPES-RX 參考價(jià)：面議
本設(shè)備主要用來研究電子陶瓷材料的遲豫性能，也就是介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。該測(cè)試能將材料的馳豫電流和漏電流分開，并可記錄...
雙光束激光干涉儀 aixDBLI 參考價(jià)：面議
雙光束激光干涉儀專門用于壓電薄膜的蝴蝶曲線和縱向壓電系數(shù)d33的測(cè)試。這一臺(tái)適合于從小尺寸薄膜到8英寸晶圓表征的雙光束激光干涉儀。半自動(dòng)的系統(tǒng)用于8“晶圓上的M...
熱釋電性能測(cè)試儀 aixPYM 參考價(jià)：面議
熱釋電性能測(cè)試儀 aixPYM(Pyroelectric Measurement)本系統(tǒng)主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測(cè)試。薄膜材料變溫范圍：-196℃...
熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC 參考價(jià)：面議
熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC(Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)本系統(tǒng)除了可以測(cè)...
熱電性能測(cè)試儀 COMTESSE 參考價(jià)：面議
熱電性能測(cè)試儀 COMTESSE(Thermoelectric Measurement)本系統(tǒng)主要用于熱電性能測(cè)試。包括：熱導(dǎo)率thermal conducti...
機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀 aix4PB 參考價(jià)：面議
機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀 aix4PB(Electromechanical thin film e31 analyzer )薄膜材料的機(jī)電性能是MEMS器件設(shè)計(jì)的關(guān)...
高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800 參考價(jià)：面議
高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800本系統(tǒng)主要用于高溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到室溫到600℃或室溫到8...
多鐵材料磁電磁阻測(cè)試儀 aixPES-MR 參考價(jià)：面議
多鐵材料磁電磁阻測(cè)試儀 aixPES-MR(MagnetoResistive Measurement)本系統(tǒng)主要用于研究磁阻和鐵性材料。本系統(tǒng)提供連續(xù)電流激勵(lì)和...
低溫塊體壓電分析儀 aixPES-Cryo 參考價(jià)：面議
低溫塊體壓電分析儀 aixPES-Cryo本系統(tǒng)主要用于高低溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到-100℃到+600℃。大信...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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